N-SIM Super-Resolution

Система микроскопии сверхвысокого разрешения N-SIM Super-Resolution

Nikon (Япония)

Система микроскопии сверхвысокого разрешения N-SIM Super-Resolution Визуализация клеточных структур и молекулярной активности при разрешении, недоступном для обычной световой микроскопии

  • Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti
  • Уникальные оптические технологии и методы производства
  • Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы
  • Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами – ее временное разрешение 0,6 с/кадр

Брошюра «Микроскопы высокого разрешения Nikon»

 

Почти в два раза более высокое разрешение по сравнению с обычными оптическими микроскопами

Благодаря использованию лицензированной UCSF технологии “микроскопии структурированного освещения” система микроскопии N-SIM от Nikon, оснащенная прославленым объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов, может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

Максимальная скорость среди аналогов – 0,6 с/кадр

Система N-SIM очень эффективна для получения изображений клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью по сравнению с аналогами – ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

Метод получения изображений TIRF-SIM

 

Новая методика освещения TIRF-SIM позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран.

Методика 3D-SIM

Новая методика освещения 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счет чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении до 20 мкм

 

Спецификации системы микроскопии высокого разрешения N-SIM

Сверхвысокое разрешение Боковое (XY) ~85 – 110 нм (в зависимости от длины волны и оптики)
Осевое (Z) ~200 – 250 нм (в зависимости от длины волны и оптики)
Диапазон сдвига вдоль оси при трехмерной съемке до 20 мкм
Скорость TIRF и 2D SIM = 0,6 с/кадр
3D SIM = 1,0 с/кадр
Микроскоп Ti-E с системой Perfect Focus и осветителем SIM
Корпус микроскопа SIM
Объективы Apo TIRF 100X 1,49 (МИ)
Plan Apo λS IR 60X 1,27 (водная иммерсия)
Имеющиеся в наличии лазеры, AOTF-модулируемые 457 нм (100 мВт)
488 нм (200 мВт)
515 нм (50 мВт)
532 нм (100 мВт)
561 нм (100 мВт)
Фотокамера Камера EM-CCD iXon DU897 (Andor)
Антивибрационный оптический стол Необходим
Рабочая температура 25°C ± 0.5°C
Рабочая влажность 40-50% ± 3%

Системная диаграмма

 

Написать ответ

Вы можете использовать эти HTML-теги и атрибуты: <a href="" title=""> <abbr title=""> <acronym title=""> <b> <blockquote cite=""> <cite> <code> <del datetime=""> <em> <i> <q cite=""> <strike> <strong>